3D 측정기 소개
3D Optical Profilometer, 3D Line Confocal
주요 특징
HPS-DBL60
- 평면 측정, 전체 커버리지, 대형 FoV : 62 * 62mm, 사각 지대없이 측정
- 고정밀 3D 측정, 측정 정확도 : ± 20μm, 반복성 : 1μm
- 인라인 측정, 2D 컬러 이미지 및 3D 포인트 클라우드를 동시에 얻을 수 있습니다.
- 매우 빠른 속도, 1 초 이내에 2D 치수 및 3D 프로파일의 고정밀 측정
-통합 설계, 완벽한 SDK 및 소프트웨어 지원
- 지능형 제조, 정밀 측정 및 과학 연구에 적용 가능
- 고정밀 3D 측정, 측정 정확도 : ± 20μm, 반복성 : 1μm
- 인라인 측정, 2D 컬러 이미지 및 3D 포인트 클라우드를 동시에 얻을 수 있습니다.
- 매우 빠른 속도, 1 초 이내에 2D 치수 및 3D 프로파일의 고정밀 측정
-통합 설계, 완벽한 SDK 및 소프트웨어 지원
- 지능형 제조, 정밀 측정 및 과학 연구에 적용 가능
2D/3D image
3200*3200（1600*1600）pixels
이미지 센서
10 megapixel CMOS sensor
FOV
62*62mm
측정거리(스탠드오프)
195mm
측정범위
±6.5mm
셔터스피드
50μs~200ms
반복정밀도
1um
HPS-LCX1000
- 투명, 거울 및 반사율이 높은 재료의 3D 검사에 적합
- 상세한 Raw Data 기록 및 다양한 형태의 2D/3D 그래프 생성 가능
- 2048포인트/프로파일, 0.1μm의 Z축 반복성
- 초고속 스캐닝: 초당 35000라인
- 완벽한 SDK 및 원스톱 소프트웨어 지원 서비스
- 산업 정밀 측정 및 과학 연구에 적용
- 상세한 Raw Data 기록 및 다양한 형태의 2D/3D 그래프 생성 가능
- 2048포인트/프로파일, 0.1μm의 Z축 반복성
- 초고속 스캐닝: 초당 35000라인
- 완벽한 SDK 및 원스톱 소프트웨어 지원 서비스
- 산업 정밀 측정 및 과학 연구에 적용
FOV(빔폭)
2.3mm
측정거리(스탠드오프)
9.3mm
측정범위
1.4mm
Z축 반복정밀도
0.1um
X축 빔포인트 수
2048
최대 측정 허용 각도
±45
HPS-LCF1000
- 투명, 거울 및 반사율이 높은 재료의 3D 검사에 적합
- 상세한 Raw Data 기록 및 다양한 형태의 2D/3D 그래프 생성 가능
- 2048포인트/프로파일, 0.1μm의 Z축 반복성
- 초고속 스캐닝: 초당 35000라인
- 완벽한 SDK 및 원스톱 소프트웨어 지원 서비스
- 산업 정밀 측정 및 과학 연구에 적용
- 상세한 Raw Data 기록 및 다양한 형태의 2D/3D 그래프 생성 가능
- 2048포인트/프로파일, 0.1μm의 Z축 반복성
- 초고속 스캐닝: 초당 35000라인
- 완벽한 SDK 및 원스톱 소프트웨어 지원 서비스
- 산업 정밀 측정 및 과학 연구에 적용
FOV(빔폭)
6mm
측정거리(스탠드오프)
16mm
측정범위
3mm
Z축 반복정밀도
0.1um
X축 빔포인트 수
2048
최대 측정 허용 각도
±20.5
HPS-LCF2000
- 투명, 거울 및 반사율이 높은 재료의 3D 검사에 적합
- 상세한 Raw Data 기록 및 다양한 형태의 2D/3D 그래프 생성 가능
- 2048포인트/프로파일, 0.2μm의 Z축 반복성
- 초고속 스캐닝: 초당 35000라인
- 완벽한 SDK 및 원스톱 소프트웨어 지원 서비스
- 산업 정밀 측정 및 과학 연구에 적용
- 상세한 Raw Data 기록 및 다양한 형태의 2D/3D 그래프 생성 가능
- 2048포인트/프로파일, 0.2μm의 Z축 반복성
- 초고속 스캐닝: 초당 35000라인
- 완벽한 SDK 및 원스톱 소프트웨어 지원 서비스
- 산업 정밀 측정 및 과학 연구에 적용
FOV(빔폭)
6mm
측정거리(스탠드오프)
19mm
측정범위
2.4mm
Z축 반복정밀도
0.2um
X축 빔포인트 수
2048
최대 측정 허용 각도
15
HPS-LCF3000
- 투명, 거울 및 반사율이 높은 재료의 3D 검사에 적합
- 상세한 Raw Data 및 다양한 형태의 2D/3D 그래프 생성 가능
- 2048포인트/프로파일, 0.15μm의 Z축 반복성
- 초고속 스캐닝: 초당 35000라인
- 완벽한 SDK 및 원스톱 소프트웨어 지원 서비스
- 산업 정밀 측정 및 과학 연구에 적용
- 상세한 Raw Data 및 다양한 형태의 2D/3D 그래프 생성 가능
- 2048포인트/프로파일, 0.15μm의 Z축 반복성
- 초고속 스캐닝: 초당 35000라인
- 완벽한 SDK 및 원스톱 소프트웨어 지원 서비스
- 산업 정밀 측정 및 과학 연구에 적용
FOV(빔폭)
13
측정거리(스탠드오프)
59
측정범위
6
Z축 반복정밀도
0.15
X축 빔포인트 수
2048
최대 측정 허용 각도
13.5
HPS-LCX3000
- 동축 감지, 최대. 거울 표면 경사: ±22°
- 투명, 정반사, 고반사 등 거의 모든 재료 표면의 고정밀 3D 측정을 완료할 수 있습니다.
- 한 번의 스캔으로 상세한 원시 데이터를 기록하고 다양한 형태의 2D/3D 그래프를 생성할 수 있습니다.
- 0.4μm의 Z축 반복성, 4.9μm의 X-해상도
- 2048포인트/라인 스캔 밀도, 초고속 스캔: 35000라인/초
- 완벽한 SDK 및 원스톱 소프트웨어 지원 서비스
- 산업용 지능형 제조, 정밀 측정 및 과학 연구에 적용
- 투명, 정반사, 고반사 등 거의 모든 재료 표면의 고정밀 3D 측정을 완료할 수 있습니다.
- 한 번의 스캔으로 상세한 원시 데이터를 기록하고 다양한 형태의 2D/3D 그래프를 생성할 수 있습니다.
- 0.4μm의 Z축 반복성, 4.9μm의 X-해상도
- 2048포인트/라인 스캔 밀도, 초고속 스캔: 35000라인/초
- 완벽한 SDK 및 원스톱 소프트웨어 지원 서비스
- 산업용 지능형 제조, 정밀 측정 및 과학 연구에 적용
FOV(빔폭)
10mm
측정거리(스탠드오프)
22mm
측정범위
6mm
Z축 반복정밀도
0.4um
X축 빔포인트 수
2048
최대 측정 허용 각도
±22
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